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超声波探伤仪“扫查” 和“扫描”区别
[ 发布日期:2013-09-29 15:36:17 | 浏览:2700次 ]

超声波探伤仪“扫查” 和“扫描”区别

0 序言
     “扫查” 和“扫描”是两个很普通、很浅显的术语;但笔者认为:还有一些问题,应该提出讨论。
1“扫查”的定义
1.1 ASME V SE1316的定义
教材上说:“扫查就是移动探头使声束覆盖到工件上需要检测的所有体积的过程。”这一叙述,大体与下面定义相同。ASME V SE1316第12部分有下列定义:
扫查---探头在试件上的相对运动,以便检查材料整个体积。
这个定义对常规UT,自然是对的;但对相控阵探头而言,却不合适了,因为探头在试件上不做相对运动时,通过相控各阵元(晶片),也可使声束与受检件之间产生相对移动---扫查。
1.2 GB/T12604.1-2005的定义
GB/T12604.1-2005/ISO5577:2000《无损检测 术语 超声检测》第9.16有下列定义:
扫查
声束与受检件之间所做的有计划的移动。
笔者注:1)定义中“声束与受检件之间所做的有计划的移动”,应不包括声束在传播方向上的移(因为这个移动是传播,属于非计划范畴);“声束与受检件之间所做的有计划的移动”,应理解为声束与受检件之间扫查范围的相对变化;2)上述定义,自然包括声束与探头之间的相对移动,如相控阵的S扫查。

笔者认为,GB/T12604.1-2005关于“扫查”的定义,是正确的。因为,在试件上移动探头,是扫查;不前后移动探头,声束在横截面内,做扩大的相控(电子)扫查,也是扫查。如相控阵的E(固定角度)扫查和S(变角度)扫查等。
2 “扫描”的定义
2.1 权威标准的定义
GB/T12604.1-2005/ISO5577:2000《无损检测 术语 超声检测》有“扫描线”和“A扫描显示”等术语,但可惜没有“扫描”这一术语的定义。
ASME V SE1316第12部分有下列定义:
    扫描---电子束横跨阴极射线示波管均匀的重复移动。
2.2 我尝试下的定义
我对ASME V SE1316上述定义并不满意,尝试下定义如下:
扫描
它的原意指电子束在显示器平面内的移动。超声检测引用这一术语,主要用来指电子束在显示器平面内的移动轨迹形成的图像,因为这些图像是超声检测结果的显示。
3 回答一个问题
在远东网“高新技术”部分有个帖子,内容如下:
对于相控阵超声声束相对探头的角度偏转,应该称为“扇形扫查”,还是“扇形扫描”?常规超声关于“扫查”的定义,还适用么?
这个问题,涉及到了“扫查”和“扫描”的定义,以及二者之间的关系。如GB/T12604.1-2005的定义,“扫查”指声束相对于工件或探头的移动;而“扫描”则是指电子束在显示器平面内的移动。所以,声束相对探头(也即工件)的角度偏转,应该称为“扇形扫查”。
4 “扫查”和“扫描”的关系
如前所述,二者有区别,但又有十分密切的关系,扫查是扫描的基础,是扫描的信号来源; 扫描是扫查结果的显示。相控阵超声的扇形扫查,往往对应的是“扇形扫描”显示。这大概是一些资料中二者混淆的原因。
    以上当否,望沟通。

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